IEC Portal de publicacions cataleg������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������ModuleName=

Cerca Cerca avançada
Títol Autor/a
Col·lecció Matèria
Any d'edició ISBN
Entitat responsable Tipus de publicació
Cerca exhaustiva
 
 
 
 
Resultat de la cerca Registres 1 a 7 (7 registres en total)
Caracterització òptica i creixement de a-Si:H
-- Article --
 Autor/a: Bertran Serra, Enric ; Canillas Biosca, Adolf ; Andújar Bella, José Luis ; Morenza i Gil, Josep Lluís
 Matèria:   Trobades Científiques de la Mediterrània (1988 : Maó)
Òptica
 Publicació: Tècniques fisiques d'anàlisi : Trobades Científiques de la Mediterrània / [organitzadors:] Institut d'Estudis Catalans ; Institut Menorquí d'Estudis
 Col·lecció: Actes ; 10 		Veure fitxa
Fitxa completa
Elaboració d'una base de dades per a l'autoformació i autoavaluació de coneixements i competències en estudis científics superiors
-- Article --
 Autor/a: Canillas Biosca, Adolf
 Matèria:   Ciència - Experiments - Ensenyament assistit per ordinador
Física - Ensenyament universitari
 Publicació: Revista de Física 		Veure fitxa
Fitxa completa
El·lipsometria infraroja amb modulació de fase i transformada de Fourier
-- Article --
 Autor/a: Canillas Biosca, Adolf ; Pascual Miralles, Esther ; Drévillon, Bernard
 Matèria:   El·lipsometria - Aparells i instruments
El·lipsometria
 Publicació: Tècniques físiques de caracterització i anàlisi : IX Trobades Científiques de la Mediterrània 		Veure fitxa
Fitxa completa
L'El·lipsometria, una eina de caracterització òptica dels materials
-- Article --
 Autor/a: Pascual Miralles, Esther ; Canillas Biosca, Adolf ; Bertran Serra, Enric ; Campmany i Guillot, Josep
 Matèria:   Materials - Anàlisi - Tècnica
El·lipsometria - Aparells i instruments
El·lipsometria
 Publicació: Revista de física 		Veure fitxa
Fitxa completa
Preparació i caracterització de capes fines de a-Si:H
-- Article --
 Autor/a: Andújar Bella, José Luis ; Andreu Batallé, Jordi ; Asensi López, José Miguel ; Bertomeu Balagueró, Joan ; Bertran Serra, Enric ; Canillas Biosca, Adolf ; Delgado Nieto, Juan Carlos ; Kasaneva Reinoso, Jorge Francisco ; Morenza i Gil, Josep Lluís ; Roch Cunill, Carles ; Sardin, Georges ; Serra Rodríguez, Julia
 Matèria:   Silici - Propietats elèctriques
Fotoconductivitat
 Publicació: Microelectrònica / a cura de [sic] Atilà Herms i Berenguer
 Col·lecció: Actes ; 12 		Veure fitxa
Fitxa completa
Tècnica d'anàlisi el·lipsomètrica de fase modulada en el rang visible - ultraviolat
-- Article --
 Autor/a: Campmany i Guillot, Josep ; Canillas Biosca, Adolf ; Pascual Miralles, Esther ; Bertran Serra, Enric
 Matèria:   El·lipsometria
 Publicació: Tècniques físiques de caracterització i anàlisi : IX Trobades Científiques de la Mediterrània 		Veure fitxa
Fitxa completa
Ultrafine particles produced by plasma enhanced chemical vapor deposition -from SiH4, CH4, NH3 and B2H6 gas mixtures- for nanostructured ceramics aplications
-- Article --
 Autor/a: Pascual Miralles, Esther ; Canillas Biosca, Adolf ; Bertran Serra, Enric ; Costa, J. ; Viera, G.
 Matèria:   Partícules (Física nuclear)
 Publicació: Contributions to science 		Veure fitxa
Fitxa completa
Pàgina 1 de 1  
   Primera Anterior
Anar a la pàgina:
Següent Última

Dades de l´usuari/ària
Per a navegar pel portal necessiteu Mozilla o Microsoft Internet Explorer (recomanem la versió 5.0 o superior).
Amb altres navegadors i/o resolucions podria ser que visualitzéssiu incorrectament alguna de les pàgines del portal.